Microscopia Sem
Attraverso la stretta collaborazione con laboratori universitari specializzati, svolgiamo test di microscopia di tipo SEM (Scanning Electron Microscopy). Tale tecnologia permette di catturare delle immagini con un alto grado di risoluzione ad elevato ingrandimento tramite l’emissione di un fascio di elettroni incidente sul materiale, il quale si comporta da corpo riflettente. Con l’utilizzo della microscopia di tipo SEM è possibile la visualizzazione nel dettaglio di oggetti di dimensioni microniche (1 µm = 10-6 m).
Gli strumenti impiegati per la microscopia SEM sono accoppiati a calcolatori che adottano un altro tipo di metodologia di analisi, detta EDS (Energy Dispersive Spectrometry).
Tale metodo consente di quantificare la presenza degli elementi chimici presenti sulla superficie inquadrata in un’area ben definita tramite l’analisi degli spettri di emissione elettronica proveniente dal materiale.
Applicazioni nel campo dei compositi di tali tecniche possono essere: ricerche di visualizzazione di micro-fratture al fine di spiegare determinate fenomenologie macroscopiche; ricerca di eventuali particelle droganti all’interno della matrice, etc.